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微观结构分析
化学成分分析
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样品制备
特色检测
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场发射型透射电子显微镜
型号: talos 厂家: FEI 附件:超级能谱、STEM、原位加热杆 加速电压:20-200kV 分 辨 率:0.15nm
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SEM-CL
阴极荧光光谱(cathodoluminescence spectroscopy)简称CL谱,是指利用电子束激发半导体,将价带电子激发到导带并在价带留下空穴,而后由于导带能量高不稳定,被激发电子又重新跃迁回价带与空穴复合,并释放出能量E≤Eg(能隙)的特征荧光谱。
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X射线光电子能谱
型号: K-ALPHA 厂家: THERMO 附件: 氩离子枪 光斑尺寸:30-400微米 分析模式:可选面积能谱分析,深度分析 例:玻璃表面二氧化钛涂层O元素不同离子价态比例
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SEM-颗粒物分析软件
颗粒物分析软件,针对各种灰度与基体不同的颗粒物进行分析及统计,颗粒物尺度可至纳米级别。
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SEM-矿物分析软件
自动矿物分类,可得到矿物组成,矿物颗粒及矿物单体颗粒的矿物组成,样品的元素组成,矿物颗粒及矿物单体颗粒的元素组成,矿物元素的分布,矿物颗粒及矿物单体颗粒的分布,矿物颗粒及矿物单体颗粒尺寸、形态、比重信息,矿物及剂矿物元素回收率及品味估算,矿物生存关系,矿物矿相表面积比,矿物的连生关系,矿物的解离度等信息。
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SEM-EBIC
要进行EBIC测试的样品必须是半导体材料且含有内电场,用于分离电子空穴对
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