澳门新浦新京网页-澳门新浦京网站

半导体元件

失效分析主要针对特定元件失效进行，按照外观检查-截面分析-光景分析-SEM/EDS顺序进行。

案例1 MLCC 外电极表面空洞导致后续镀金液渗透

上一篇下一篇

咨询热线：400-1001-303





复制成功

微信号:13126536208

添加微信好友，详细了解产品。

知道了